电子创新@@188足彩外围@@app 网@@ - 氧化镓@@ - 188足彩网 //www.300mbfims.com/tag/%E6%B0%A7%E5%8C%96%E9%95%93 zh-hans 三菱电机@@投资@@Novel Crystal Technology,加速开发@@氧化镓@@功率半导体@@@@ //www.300mbfims.com/content/2023/100573191.html <!-- THEME DEBUG --> <!-- CALL: theme('field') --> <!-- FILE NAME SUGGESTIONS: * field--body--article.tpl.php * field--article.tpl.php * field--body.tpl.php * field--text-with-summary.tpl.php x field.tpl.php --> <!-- BEGIN OUTPUT from 'sites/all/themes/Murata/templates/field.tpl.php' --> <!-- This file is not used by Drupal core, which uses theme functions instead. See http://api.drupal.org/api/function/theme_field/7 for details. 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After copying this file to your theme's folder and customizing it, remove this HTML comment. --> <div class="field field-name-body field-type-text-with-summary field-label-hidden"> <div class="field-items"> <div class="field-item even"><p>近日@@@@,在@@世界@@顶级的半导体@@和电子器件@@技术论坛@@IEEE IEDM上@@,中@@国科大国家示范性微电子学院龙世兵教授课题组两篇关于氧化镓@@器件@@的研究论文@@(高功率氧化镓@@肖特基二极管@@@@@@和氧化镓@@光电探测器@@@@)成功被大会接收@@,这也是中@@国科大首次以第一作者单位在@@@@IEEE IEDM上@@发表论文@@。</p><p><strong>高功率氧化镓@@肖特基二极管@@@@@@</strong></p><p>如@@何开发@@出有效的边缘终端结构@@,缓解肖特基电极边缘电场是目前氧化镓@@肖特基二极管@@@@研究的热点@@。由于氧化镓@@@@P型@@掺杂目前尚未解决@@,PN结相关的边缘终端结构一直是难点@@。该@@工作基于氧化镓@@异质@@PN结的前期研究基础@@,将异质结终端扩展结构成功应用@@于氧化镓@@肖特基二极管@@@@@@。</p><p>该@@研究通过合理设计优化@@JTE区域的电荷浓度@@,确保不影响二极管@@正向特性的同时最大化削弱肖特基边缘电场@@,从而有效提高器件@@的耐压能力@@。</p><p>优化后的器件@@实现了@@2.9mΩ·cm2的低导通电阻和@@2.1kV的高击穿电压@@@@,其功率品质因数高达@@1.52GW/cm2。此外@@,利用@@该@@优化工艺成功制备并封装了大面积的氧化镓@@肖特基二极管@@@@@@,器件@@正向偏压@@2V下@@电流密度达到@@@@180A/cm2,反向击穿电压@@高达@@1.3kV。</p><p><img src="https://cdn.eetrend.com/files/ueditor/108/upload/image/20221213/1670924165399553.jpg" title="1670924165399553.jpg" alt="1.JPG" /></p><p>图@@1结终端扩展氧化镓@@肖特基二极管@@@@@@。(a)器件@@结构示意图@@@@。(b)具有不同@@JTE区域电荷浓度的器件@@击穿特性比较@@。(c)封装器件@@反向恢复特性测试电路@@。(d)与已报道的氧化镓@@肖特基二极管@@@@的性能比较@@。</p><p><strong>氧化镓@@光电探测器@@</strong></p><p>光电探测器在@@目标跟踪@@、环境监测@@、光通信@@、深空探索等诸多领域发挥着越来越重要的作用@@@@。响应度和响应速度是光电探测器的两个关键的性能参数@@,然而@@这两个指标之间存在@@着制约关系@@,此消彼长@@。</p><p>由于缺乏成熟的材料缺陷控制技术@@,该@@问题在@@以氧化镓@@材料为代表的超宽禁带半导体@@探测器中@@尤为突出@@。龙世兵教授团队通过引入额外的辅助光源@@实现对@@向光栅@@@@(OPG)调控方案@@(图@@2a),来缓解上@@述制约关系@@。</p><p>该@@OPG方案下@@的@@Ga2O3/WSe2结型@@场效应晶体管探测器在@@目标光@@(深紫外@@)照射下@@表现出负向光栅效应@@(NPG),器件@@的阈值电压@@往负向移动@@(图@@2b);与之相反@@,辅助光源@@(可见光@@)照射使器件@@表现出正向光栅效应@@(PPG),器件@@的阈值电压@@往正向移动@@;在@@目标光及辅助光同时照射下@@@@,器件@@整合了正@@、负对@@向光栅@@效应@@,但总体表现为阈值电压@@朝负向移动@@。OPG方案有效抑制器件@@内严重的持续光电导效应@@,器件@@的响应速度明显提升@@(图@@2c)。</p><p>此外@@,如@@图@@@@(2d)所示@@,OPG调控方案@@中@@引入的辅助性可见光@@对@@器件@@的光@@/暗电流比和响应度等关键指标几乎不产生影响@@。最终@@,当@@OPG方案中@@的可见光@@常开@@,在@@仅牺牲@@10.4%的响应度的情况下@@即实现了@@&gt;1200倍响应速度的提升@@,成功削弱了响应度和响应速度之间的制约关系@@。</p><p><img src="https://cdn.eetrend.com/files/ueditor/108/upload/image/20221213/1670924172842112.jpg" title="1670924172842112.jpg" alt="2.JPG" /></p><p>图@@2对@@向光栅@@(OPG)光电探测器概念及基本特性@@</p><p>特别地@@,当@@通过反馈电路控制辅助光源@@仅在@@器件@@响应的下@@降沿触发@@,将在@@无响应度牺牲的情况下@@实现响应速度的数量级提升@@。该@@工作提出了一种光电探测器芯片内千万像素共享一颗辅助@@LED即可缓解响应度与响应速度之间的制约关系的策略@@,对@@光电探测芯片综合性能的提升有重要的参考意义@@。(来源@@:中@@国科学技术大学@@)</p></div> </div> </div> <!-- END OUTPUT from 'sites/all/themes/Murata/templates/field.tpl.php' --> <!-- THEME DEBUG --> <!-- CALL: theme('field') --> <!-- FILE NAME SUGGESTIONS: x field--field-keywords--blog.tpl.php * field--blog.tpl.php * field--field-keywords.tpl.php * field--taxonomy-term-reference.tpl.php * field.tpl.php --> <!-- BEGIN OUTPUT from 'sites/all/themes/Murata/templates/field--field-keywords--blog.tpl.php' --> <!-- This file is not used by Drupal core, which uses theme functions instead. 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eV的大带隙@@和晶体生长方面的突破@@,导致了@@2012年@@第一个@@Ga2O3晶体管的演示@@。Ga2O3有希望成为电力电子平台@@,但在@@未来十年@@将这种@@UWBG半导体@@投入商用@@存在@@挑战@@。</p><p>如@@果超高压电子技术渗透到@@下@@一代电网@@控制和保护@@、超快电动汽车@@充电器或@@具有尺寸@@、重量和功率优势的高效负载点转换器等应用@@领域@@,那么吸引了许多行业注意力的电气化进程可能会被颠覆性地加速@@。虽然碳化硅器件@@的成本比传统的硅电力电子产品高@@,但在@@系统级@@,由于电路要求更简单@@,预计这些成本将被节省的费用@@所抵消@@。</p><p>如@@果出现可行的@@UWBG技术平台@@,则@@可以实现超过@@20kV的非常高的电压@@和高开关速度的功率转换@@。即使在@@@@10kv下@@,也很难在@@不牺牲电路效率的情况下@@将功率转换器的开关频率提高到@@@@10khz以上@@@@。UWBG半导体@@本质上@@需要更薄的器件@@层@@,从而减少传导损耗@@(与通道电阻成正比@@)。通过较小的@@UWBG器件@@减少的载波传输时间也将减少开关损耗@@(与电容成正比@@),并在@@不牺牲输出功率的情况下@@为高速电子设备提供平台@@。这种高速功率晶体管在@@电力电子行业将是破坏性的@@,因为@@系统体积与频率成反比@@。</p><p>在@@六个结晶@@Ga2O3相中@@@@,低对@@称单斜@@β- Ga2O3由于其在@@高温@@(&gt;650°C)下@@的热稳定性@@,在@@其发展周期中@@走得最远@@,下@@面的讨论涉及到@@该@@相@@。与其他@@WBG或@@UWBG半导体@@不同的是@@,最初为硅基片开发@@的熔体生长方法已经被用@@于商业化@@Ga2O3衬底@@。β- Ga2O3晶圆已达到@@@@4英寸@@(100毫米@@)的商业里程碑@@,并有望在@@@@2027年@@达到@@@@6英寸@@(150毫米@@)的尺寸@@。与此同时@@,高质量外延的基础设施正在@@扩大@@,以跟上@@不断增长的@@Ga2O3基片尺寸@@。Ga2O3外延生长的方法@@,如@@化学气相沉积@@(CVD)、分子束外延和卤化物气相外延等@@,正在@@被广泛研究@@,目的是生产最高质量的材料@@。</p><p>尽管@@UWBG技术的基本基础设施构建模块已经进入了开发@@周期@@,但研究人员仍在@@积极探索@@UWBG设备架构@@。垂直场效应晶体管@@(FET),如@@FinFET(见图@@左@@),理论上@@可以阻挡非常高的场@@,但更容易受到@@外延层扩展缺陷的影响@@。横向晶体管@@,如@@异质结@@FET(见图@@右@@),由于其更小的电容和更短的传输时间@@,有可能更快更有效地切换@@,而且它还可以使用@@@@Ga2O3三元合金@@,在@@这种情况下@@是@@β-(Al xGa1-x) 2O3,以进一步提高功率性能@@。</p><p style="text-align:center"><img src="https://cdn.eetrend.com/files/ueditor/108/upload/image/20221125/1669343878990296.png" title="1669343878990296.png" alt="氧化镓@@(β-Ga2O3)器件@@.png" /></p><p style="text-align: center;"><em>氧化镓@@(β-Ga2O3)器件@@</em></p><p>浅层能量供体和受体@@(带电杂质@@)的存在@@困扰着所有@@UWBG半导体@@,因为@@越来越宽的能隙通常会使外部杂质驻留在@@离传导带@@(或@@价带@@)更远的地方@@。然而@@,对@@于@@Ga2O3来说@@,硅是一种极好的外部浅供体@@,它能够实现从@@1014 cm-3以下@@到@@@@1020cm-3以上@@@@的广泛可控电导率@@。可控的@@n型@@电导率甚至延伸到@@三元合金@@@@(Al xGa1-x) 2O3,它有更宽的带隙@@@@,也可根据相和@@Al浓度调节@@。此外@@,CVD生长的同质外延@@β-Ga2O3的纯度只有硅超过@@。最近@@,通过无意受体@@(2×1013cm-3,~0.06%的给体补偿@@)的超低水平背景使同质外延@@CVD Ga2O3具有极高的低温迁移率@@(23000 cm2 V-1 s-1),这可能源于晶格中@@无意形成的点缺陷@@@@。</p><p>然而@@,要在@@这种纯度水平上@@生长非常厚@@(&gt;30 μm)的外延@@β-Ga2O3是非常具有挑战性的@@,它的发展需要与@@SiC在@@超高功率开关应用@@领域竞争@@。在@@高压@@Ga2O3器件@@商业化之前@@,对@@Ga2O3外延缺陷的理解必须在@@未来几年@@内取得进展@@。点缺陷@@,如@@空位@@及其相关复合体@@(如@@空位@@-间质缺陷@@)以及厚外延层中@@的扩展缺陷@@,目前抑制@@Ga2O3器件@@尺寸@@。总的来说@@@@,Ga2O3中@@的缺陷表征有望成为一个丰富的研究领域@@,这也将使任何希望用@@有用@@的设备尺寸打破@@20kv障碍的@@Ga2O3电力电子商业企业能够实现这一目标@@。</p><p>对@@于@@电力电子来说@@@@,开发@@p型@@(空穴载流子@@)材料是必要的@@,因为@@Ga2O3中@@的空穴形成局域极化子@@,导致自俘获现象@@,限制了它们的传导@@。无论器件@@几何形状如@@何@@,Ga2O3中@@p型@@导电性的缺失对@@高电场管理提出了挑战@@,任何实际的解决方案都需要对@@先前开发@@的半导体@@所没有面临的异质集成进行创新@@。</p><p>不同于@@p型@@半导体@@@@,如@@SiC、氮化镓@@(GaN)或@@金刚石@@,WBG p型@@氧化镍@@(NiO)可以在@@室温下@@溅射@@,因此有利于与@@Ga2O3器件@@集成@@。最近@@的研究@@,如@@Zhang等人演示的@@8 kv NiO/Ga2O3 p-n二极管@@,已经表明@@,通过将异质结与这些器件@@中@@的场管理和电荷平衡相结合@@,可以潜在@@地管理@@Ga2O3中@@p型@@电导率的缺乏@@。如@@果开发@@出与@@p型@@WBG半导体@@(如@@GaN或@@AlN)的稳健异构集成@@,则@@Ga2O3作为电力电子材料的前景将大大增强@@。这样的发展可能导致可靠的结势垒肖特基整流器商业化@@,就像@@SiC的情况一样@@。</p><p>在@@实际高压电子器件@@中@@使用@@@@UWBG材料的关键要求是在@@表面上@@有效的电场终止@@。氮深受主在@@使@@Ga2O3几乎绝缘和产生可减小电场的有效介电层方面是有效的@@。选择性离子注入可以在@@器件@@制造过程中@@形成导电和绝缘表面区域@@。干蚀刻@@是制造这种图@@案的一个常见的加工步骤@@,它会引入影响器件@@可靠性的表面缺陷@@。如@@果图@@案可以完全通过离子注入来实现@@,那么干蚀刻@@可能完全被消除@@。与其他@@UWBG材料不同的是@@,Ga2O3甚至可以在@@磷酸中@@湿蚀刻@@@@,并使用@@气相@@Ga蚀刻@@,这两种方法都可以消除等离子蚀刻@@带来的化学和机械损伤@@,因为@@等离子蚀刻@@总是会在@@蚀刻@@表面引入缺陷@@。在@@开发@@@@Ga2O3专用@@制造工艺的同时@@,开发@@高质量厚外延层@@,可以在@@下@@一个十年@@中@@加速@@Ga2O3器件@@的商业化@@,至少可以达到@@双端器件@@@@(如@@二极管@@@@)的规模@@。</p><p>必须仔细考虑@@Ga2O3极低的导热系数@@(11到@@27 W m-1K-1)。Ga2O3晶体管的冷却甚至比@@GaN晶体管更关键@@,后者也有自热效应@@。尽管@@Ga2O3器件@@在@@运行过程中@@输出的功率与@@GaN器件@@相比仍然要低一个数量级@@,但为@@GaN开发@@的顶部和底部侧冷却方法可以应用@@于@@Ga2O3。事实上@@@@,用@@AlN或@@纳米晶金刚石覆盖横向晶体管@@可以实现@@Ga2O3 5-6w mm-1的直流输出功率@@,这与@@20世纪@@90年@@代@@GaN高电子迁移率晶体管的早期结果类似@@。具有高导热性的异质集成@@WBG p型@@半导体@@@@,如@@SiC, GaN,甚至金刚石@@,尤其适用@@于@@p-n和结势垒肖特基整流器@@。</p><p>回顾@@WBG半导体@@的早期商业化努力@@,SiC的成功在@@一定程度上@@是由大量的政府投资和持续创新的科研努力所驱动的@@。解决碳化硅微管和基面位错缺陷问题依赖于先进的表征技术@@,如@@紫外光致发光成像和光谱学@@。材料科学家们继续发展他们对@@直径更大的@@SiC晶圆缺陷的理解@@。</p><p>在@@厚@@(&gt;30 μm)Ga2O3外延层中@@理解和控制点缺陷@@和扩展缺陷也需要类似的努力@@。政府的资金对@@于@@早期支持这些努力是至关重要的@@。美国海军研究办公室于@@2017年@@启动了小型@@企业技术转让项目@@,旨在@@启动@@β-Ga2O3 CVD的开发@@@@,该@@项目在@@项目结束前实现了该@@能力的商业化@@,凸显了该@@新技术的重要性@@。最近@@颁布的美国芯片和科学法案不仅将为芯片制造设施提供资金@@,还将向美国商务部和美国国防部提供@@130亿@@美元@@,用@@于半导体@@和微电子研究和开发@@@@。这些投资将在@@未来几年@@刺激@@UWBG半导体@@和相关材料研究的额外资金@@,期望异构集成半导体@@模块的多样化组合将克服使用@@特定半导体@@制造的芯片的缺点@@。此外@@,只有在@@无源器件@@能够跟上@@的情况下@@@@,更高频率的器件@@才会在@@系统级别上@@发挥作用@@@@。磁性材料的进步也有助于防止电感器和变压器等部件在@@更高频率下@@变得太过损耗@@。</p></div> </div> </div> <!-- END OUTPUT from 'sites/all/themes/Murata/templates/field.tpl.php' --> <!-- THEME DEBUG --> <!-- CALL: theme('field') --> <!-- FILE NAME SUGGESTIONS: x field--field-keywords--article.tpl.php * field--article.tpl.php * field--field-keywords.tpl.php * field--taxonomy-term-reference.tpl.php * field.tpl.php --> 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